Salute e malattia
La microscopia elettronica usa un fascio di elettroni focalizzato per immagini ad altissima risoluzione. Microscopi ottici limitati da lunghezza d'onda fotoni; microscopi elettronici da lunghezza d'onda elettroni (molto minore): ingrandimenti fino a ~0,05 nm. Quattro tipi principali, differenziati per tipo di energia riflessa rilevata.
1931: primo microscopio elettronico a trasmissione (TEM) da Max Knoll ed Ernst Ruska (Germania). Prototipo iniziale < microscopio ottico, ma 2 anni dopo lo superò. Tutti i successivi basati su questo prototipo.
Immagini da fascio trasmesso attraverso sezione sottilissima. Campione su griglia rame, fascio da alto voltaggio su filamento tungsteno. Fascio → lente condensatrice → campione → lenti obiettivo/proiettiva → schermo fosforescente. Campione: disidratato, in vuoto (evita vapore acqueo → scattering). TEM: massimo ingrandimento.
Tra i più usati con TEM. Immagini da elettroni secondari/inelastici retrodiffusi da superficie. Fascio primario → lenti condensatrici, bobine scansione, lente obiettivo → superficie. Scattering → rivelatore elettroni secondari → raster scanning → immagini superficie con grande profondità di campo.
Struttura simile a SEM. Raccoglie elettroni retrodiffusi/elastici dopo impatto su superficie. Spesso accoppiato a microscopia elettronica a bassa energia spin-polarizzata per immaginare domini magnetici in circuiti integrati.
Come TEM: fascio attraverso sezione sottile. Differenza: fascio focalizzato prima del campione, immagine via raster scanning. Adatto a mappatura analitica: spettroscopia perdita energia elettroni, microscopia a campo oscuro anulare.
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